SSC2-0404-RLNC
반도체 또는 베터리에 대한 제조공정이 완료된 후, 해당 제품에 대한 양품 여부를 검사한다.
반도체의 경우 일정 가혹 조건 하에 정상적으로 작동하는지 여부를 검사할 수 있으며, 베터리의 경우
일정 가혹 조건 하에서 폭발성을 갖는지 여부를 검사할 수 있다. 검사하고자 하는 전자 부품은 챔버
내함에 마련된 테스트베드 상에 설치되며, 챔버 내부의 공기는 히터 또는 냉각기를 통해 가열되거나
냉각된다. 이때, 공기는 설정된 가혹 조건에 부합하는 온도까지 조절되며, 이로 인해 테스트베드가 가혹
조건 하에 놓일 수 있고, 이러한 가혹 조건에서 전자부품에 대한 테스트할수 있는 Chamber를 제작합니다.
